法國Phasics Kaleo MTF技術指導
法國Phasics Kaleo MTF
產品介紹：
KaleoMTF儀器非常適合在設計、原型制作或生產階段測量透鏡組。它提供最完整的鏡頭表征：多波長的軸上和離軸MTF、輻射測量和波前誤差。即使在高CRA和FOV下，KaleoMTF測量精度也保持不變。
產品特點：
兼容大FOV（高達+/-90°）和CRA（高達50°）鏡頭
單次MTF和WFE測量
上下軸無限到有限配置
產品參數：
MTF同軸：準確度<1%*-重復性<0.5%*
MTF離軸：準確度<2%**-重復性<1%**
MTF最大頻率：1000磅/毫米
失真：準確度<0.5%-重復性<0.05%
OPD（同軸）：精度<20nmRMS-重復性<5nmRMS
法國Phasics SID4-SWIR-HR
產品介紹：
SID4-SWIR-HR波前傳感器將Phasics的專利技術與InGaAs探測器集成在一起。由于其超高空間分辨率（160x128相位像素）和高靈敏度，它可以提供從900nm到1.7µm的精確波前測量。SID4-SWIR-HR是一種創新的解決方案，用于測試用于光通信、檢查儀器或軍事和監視設備中的夜視儀的SWIR光學系統。
產品特點：
擴展光譜范圍從0.9到1.7µm
超高分辨率–160x128相位像素
高靈敏度——與低能量紅外源兼容
產品特點：
波長范圍：0.9-1.7微米
孔徑尺寸：9.60x7.68平方毫米
空間分辨率：60微米
相位和強度采樣：160×128
分辨率（相位）：<2納米RMS
準確度（絕對）：15納米有效值
獲取率：30幀/秒
實時處理頻率*：7fps（全分辨率）*
界面：千兆以太網
尺寸(WxHxL)：55x63x100毫米³
重量：~500克
法國Phasics Kaleo MultiWAVE
產品介紹：
Phasics正在通過一種能夠測量透射和反射波前誤差(TWE/RWE)的新儀器在光學計量方面進行創新。鍍膜和未鍍膜的光學元件在其工作波長下可以超過5.1英寸（130毫米）的直徑。KaleoMultiWAVE是購買多個干涉儀的有利替代方案且具有成本效益的解決方案。該系統提供的測量精度可與Fizeau干涉測量法相媲美。
產品特點：
按需提供任何波長：UV-VISIBLE-NIR-SWIR-MWIR-LWIR
同一個測試臺上的多個波長
納米相位分辨率和大動態（>500條紋）
產品參數：
配置：雙通
測量能力：反射面的測量能力RWE透明光學元件的TWE
每臺儀器的波長數：1或2（標準），最多8（定制）
自定義波長：從193nm到14μm的任何波長，包括：UV：266、355、405nm可見光/近紅外：550、625、780、940、1050nm短波紅外/中波紅外/長波紅外：1.55、2.0、3.39、10.6µm
清晰光圈：5.1英寸（130毫米）
光束高度：108毫米
對準系統：對準系統實時相位和澤尼克系數顯示
極化：與消偏光學兼容
對準視場：+/-2°
瞳孔對焦范圍：+/-2.5米
尺寸/重量：910x600x260毫米³，25公斤
隔振：不必要
法國Phasics Kaleo MTF技術指導
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