朗格langer MV-Technik工具E1

　　Langer EMV-Technik處于EMC領域的研究，開發和生產的最前沿。通過EMC實驗研討會和EMC研討會，我們為客戶提供了全面的知識。

　　我們的 干擾發射 和 抗干擾性 EMC測量技術以及IC測試系統主要用于開發階段，并且在全球范圍內都有需求。

　　產品展示

　　PCB抗擾度

　　測量系統和EMC工具，用于進行組件和設備的抗擾性測試和分析

　　PCB發射

　　在開發階段用于組件和設備排放分析的測量系統和EMC工具

　　測量和校準站

　　測量和校準站用于校準EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數。

　　教學與培訓測量技術

　　EMC實驗的模型裝配

　　IC測量技術

　　借助IC(集成電路)測試系統，開發人員可以在特定干擾(傳導和輻射)或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運行中經過了測試。

　　E1是一組EMC工具，用于在開發階段抑制印刷電路板中的EMI。開發人員可以使用E1集快速識別突發和ESD干擾的原因。這使開發人員可以設計適當的措施來解決干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小，可輕松安裝在開發人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機制，并詳細描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發生器，用于產生突發和ESD干擾。

　　供貨范圍

　　· 1倍SGZ 21，脈沖發生器

　　· 1倍S21，光學傳感器(10 Mbps)

　　· 1倍BS 02，磁場源

　　· 1倍BS 04DB，磁場源

　　· 1倍BS 05D，磁場源

　　· 1倍BS 05DU，磁場源

　　· 1倍ES 00，電場源

　　· 1倍ES 01，電場源

　　· 1倍ES 02，電場源

　　· 1倍ES 05D，電場源

　　· 1倍ES 08D，電場源

　　· 1倍MS 02，磁場探頭

　　· 1倍E1 acc，配件

　　· 1倍NT FRI EU，電源裝置

　　· 1倍E1案例，系統案例

　　· 1倍E1 m，E1設置用戶手冊

　　P1 set

　　P23 set

　　P11t set

　　P12t set

　　CAN 100 set

　　CAN 100 A01 set

　　LIN 100 set

　　BD 11

　　BD 06B

　　BD 01B

　　BD 01E

　　ESA1 set

　　HFW 21 set

　　Z23-1 set

　　Z23-2 set

　　NNB 21 set

　　PA 203 SMA套件

　　PA 303 BNC套件

　　PA 303 SMA套件

　　PA 303 N套

　　PA 306 SMA套

　　ICS 105

　　FLS 106 IC

　　FLS 106 PCB

　　SUH 106

　　LF1

　　MFA-K 0.1-12 set

　　A100-1 set

　　XF-R 100-1

　　迷你突發場發生器特別小。它們用于在開發階段識別和消除電子裝配中的薄弱環節。它們會在其尖端產生脈沖串或ESD場。微型脈沖發生器用手在其被測設備(例如印刷電路板)上靠近其表面的方向上引導。弱點會響應脈沖場，并且會發生故障。突發場發生器可以應用于電路板設計的選定單個部分，以識別潛在的弱點(接地系統中的故障，單個走線或IC引腳)。分開的磁耦合(P11和P12)和電耦合(P21)允許針對相應的弱點最佳地調整EMC對策。

　　供貨范圍

　　· 1倍P11，迷你爆發場發生器(B)

　　· 1倍P12，迷你爆發場發生器(B)

　　· 1倍P21，迷你爆發場發生器(E)

　　· 1倍P1機殼，Mini Burst Field Generators機殼

　　· 1倍P1 m，P1設置用戶手冊

　　· 朗格langer MV-Technik工具E1