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RETSCH公司由 F. Kurt Retsch 創立于 1915 年。幾年后，他創造出一種研缽研磨機，即后來的 "RETSCH Mill"。如今，RETSCH 已成為粒度減小和顆粒測定技術領域的解決方案提供商。RETSCH 產品不僅能保證研磨和顆粒分析結果的代表性和可重復性，而且操作簡便舒適。

主要產品：

RETSCH研磨儀

RETSCH粉碎儀

RETSCH篩分儀

RETSCH干燥儀

RETSCH研磨儀XRD-MILL MCCRONE

XRD-Mill McCrone是專門為后續X射線衍射（XRD）分析的樣品制備而開發的。該研磨儀可用于地質學、化學、礦物學和材料科學、質量控制以及科學研究的應用。

由于其特殊的研磨運動，XRD-Mill McCrone對這種分析方法特別有效。48個圓柱形研磨元件通過摩擦輕輕地研磨樣品。其結果是研磨時間短，幾乎沒有樣品損失，而且粒徑分布特別窄，因此可以進行非常好的相位分析。

完整保留了晶格結構，為有效X射線衍射分析提供了先決條件。

研磨容器由一個容量為125毫升的聚丙烯罐組成，配有一個螺旋蓋的無墊片聚乙烯封口。罐子里裝滿了48個相同的圓柱形研磨元件的有序排列，有瑪瑙、氧化鋯或剛玉等材質。實現最佳微粉化的研磨時間在3到30分鐘之間。典型的樣品量在2到4毫升之間。

為了后續用于X射線衍射分析的有機樣品制備，我們還提供了由瑪瑙制成的研磨套件。

應用實例

云母, 建筑原料, 植物原料, 氮化物, 水泥, 玻璃, 石板, 礦物, 硼化物, 碳化物, 粘土, 金屬, 陶瓷, 骨頭

作用原理

XRD-Mill McCrone主要依靠摩擦力研磨樣品。48個圓柱形的研磨塊在罐內排成8排，每排6件。 在運行過程中，罐子做圓周運動，研磨塊把樣品從小于0.5 mm研磨到亞微米水平（通常小于10 um）。 由于研磨過程很溫和，所以晶格可以完整保留。這使得XRD-Mill McCrone成為X射線衍射分析樣品制備的較佳選擇。

型號示例：

RETSCH研磨儀XRD-MILL MCCRONE

RETSCH研磨儀MM500

RETSCH研磨儀MM400

RETSCH研磨儀PM100

RETSCH研磨儀PM200

RETSCH研磨儀PM300

RETSCH研磨儀PM400

德國RETSCH研磨儀XRD-MILL MCCRONE可用于科學研究