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CGM CIGIEMME S.p.A.是無損檢測（NDT）設備制造商： 磁粉檢測 (MT)、滲透檢測 (PT) 和超聲波檢測 (UT) 系統CGM 設計和制造全套磁性檢測（MT）和滲透檢測（PT）設備，從簡單的設備到自動系統，均可根據客戶的具體需求量身定制，并提供 MT 和 PT 領域使用的全套耗材、工具、配件和儀器。

主要產品：

CGM磁性測試

CGM滲透測試

CGM超聲波測試和渦流

CGM紫外燈

非破壞性超聲波控制是一種將高頻聲波引入待檢材料（金屬和非金屬）以檢測內部缺陷的控制方法。頻率范圍從 1 Mhz 到 10 Mhz 不等。在特殊應用情況下，可使用更低或更高的頻率。

在過去的二十年中，相控陣技術從醫療領域中衍生出來，用戶可以通過電子方式控制超聲波束的角度和焦距，從而為檢測和報告質量帶來了毋庸置疑的優勢。

感應電流/渦流控制技術利用交變磁場在導電材料中產生的感應電流來檢測表面和次表面缺陷。

圓棒和方棒在線檢測

BIS（棒材檢測系統）

采用UT相控陣和渦流陣列技術的100%全自動（包括校準）通過式檢測系統，用于圓形和方形棒材（黑色、噴砂和軋制/剝皮棒材）的在線檢測，生產率高（檢測速度可達2米/秒）。

T1 用于檢測圓棒（10 ÷ 65 毫米）。最大靈敏度 FBH 0.7 mm，測試速度從 0.5 到 2 m/s，具體取決于系統的硬件配置、缺陷類型以及材料的表面和直線度條件。

T2 用于檢測圓棒（20 ÷ 100 毫米或 25 ÷ 125 毫米）和方棒（30 ÷ 115 毫米）。最大靈敏度 FBH 0.7 mm，測試速度 0.5 至 2 m/s，具體取決于系統的硬件配置、缺陷類型以及材料的表面和直線度條件。

T4 用于檢測圓棒（80 ÷ 250 毫米）和方棒（90 ÷ 240 毫米）。最大靈敏度 FBH 0.8 毫米，測試速度 0.3 至 1 米/秒，具體取決于系統的硬件配置、缺陷類型以及材料的表面和直線度條件。

UT相控陣技術允許同時使用縱波（LW）和橫波（SW）進行檢測，確保橫截面 100% 的覆蓋率（檢測內部、次表面和表面缺陷）。T1 和 T2 的非控制端約為 30 毫米，T4 為 50 毫米。

渦流陣列技術可檢測縱向、橫向和斜向表面缺陷。最小檢測深度約為 0.2 毫米（根據材料的表面狀況而變化）。

這種系統符合汽車、核工業和航空工業（NADCAP）特定法規所要求的條件。

意大利CGM CIGIEMME棒材檢測系統采用渦流陣列技術