Zeiss是一家制造光學和光電設備的德國品牌，總部位于Oberkochen(奧伯科亨市，巴登符堡州)。品牌的名稱來源于它的創始人之一 —— 卡爾·蔡司先生（1816年-1888年）。它由卡爾·蔡司(Carl Zeiss)、恩斯特·卡爾·阿貝(Ernst Karl Abbe)和奧托·肖特(Otto Schott)于1846年在耶拿(Jena)建立。

X射線顯微鏡：

 

產品介紹：

 

科學研究和技術開發的進步極大程度地依賴于用以表征材料性能和特性的高效成像解決方案。無論是開發與論證用于描述材料性能和特性的模型，或是簡單地對結構細節信息進行成像，能以三維方式揭示微觀結構的細節是關鍵所在。ZEISS三維X射線顯微鏡（XRM）：即便是相對較大的樣品，先進的成像解決方案也可以借助高襯度和亞微米分辨率出色地完成三維成像。在無損三維（3D）成像方面取得的這一系列突破性飛躍，大大拓寬了技術學科的研究范圍。

 

型號示例：

 

德國ZEISS  ZEISSXradiaContextmicroCT

ZEISSXradiaContext是一款大視場、非破壞性3DX射線微米計算機斷層掃描系統。憑借強大的平臺和靈活的軟件控制源及探測器定位，您可以在完整的三維環境中對大尺寸、重量25kg內和高尺度樣本進行成像，同樣也可以對小樣品進行高分辨率的成像。

 

德國ZEISS  ZEISSXradiaCrystalCT

ZEISSXradiaCrystalCT是為您揭示樣品晶體信息和微觀結構秘密的開創性微米CT。本產品以其獨特方式擴展了計算機斷層掃描的強大技術，使其具有展示晶體晶粒微觀結構的能力，改變了研究多晶體材料（如金屬、增材制造、陶瓷等）的方式，從而為您的材料研究帶來更新、更深的洞見。

 

德國ZEISS  ZEISSXradia610&620Versa

ZEISSXradia610&620Versa3DX射線顯微鏡在科研和工業研究領域為您開啟多樣化應用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術，Xradia610&620Versa大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。

 

德國ZEISS  ZEISSXradia520Versa

亞微米X射線顯微鏡Xradia520Versa基于業界前沿的高分辨率和襯度成像技術，拓展了無損成像的應用局限。創新的成像襯度和圖像采集技術讓你自由地定位并發現您前所未見過的信息。

 

德國ZEISS  ZEISSXradia515Versa

ZEISSXradia515Versa得益于兩級放大的架構，可實現大工作距離下亞微米級分辨率成像（RaaD）。減少對單級幾何放大的依賴性，在大工作距離下依然保持了亞微米級分辨率。

 

德國ZEISS  ZEISSXradia410Versa

Xradia410Versa填補了高性能三維X射線顯微鏡技術解決方案與傳統低成本、低性能且基于投影的計算機斷層掃描（CT）系統之間的空白。多種射線源的選擇可靈活應對多種樣品尺寸和樣品類型的成像應用。

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