在线播放/欧美激情,欧美精品黑人性xxxx,欧美日韩精品在线

品牌德國LANGER EMV-Technik	有效期至長期有效	最后更新2021-06-02 11:54
瀏覽次數6

德國LANGER EMV-Technik H-場探頭MFA-R 0,2-6

德國LANGER EMV-Technik H-場探頭MFA-R 0,2-6

近場探頭組MFA 01包括：

H-場探頭MFA-R 0,2-6

H-場探頭MFA-R 0,2-75

H-場探頭MFA-K 0,1-12近場探頭組MFA 01包括：

H-場探頭MFA-R 0,2-6

H-場探頭MFA-R 0,2-75

H-場探頭MFA-K 0,1-12

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術指標：

	頻率范圍	分辨率	結構	連接器
MFA-R 0,2-75	1MHz～1GHz	300 µm	雙水平環	SMA
MFA-R 0,2-6	100MHz～6GHz	300 µm	垂直環	SMA
MFA-K 0,1-12	100MHz～6GHz	200 µm	垂直環	SMA
偏置器BT 706	500kHz～6GHz			SMA

SX系列近場探頭簡介：

SX系列近場探頭，用于測量電子模塊、元器件和IC引腳的高頻近場，頻率范圍可達10GHz。探頭內部不含預放，為無源探頭，可使用射頻電纜連接到預放或頻譜分析儀的50歐姆輸入端。

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術指標：

SX系列近場探頭簡介：

品牌概述：Langer EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領域的，集研究、發展和生產于一體的中型電工公司。

王立華
QQ：2850590596

手機：18518172069
電話：010-64717020-125
傳真：010-84786709-666
郵件：sales20@handelsen.cn

王立華郵箱：sales20@handelsen.cn電話：010-64717020-125

LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術展現出在組件和集成電路開發中的新視角和經濟高效的工作策略。

Langer主要產品：Langer掃描儀、Langer掃描探頭(30MHz-3GHz)、Langer探測頭、Langer放大器、Langer測量儀等儀器儀表備件，今天小編主要為大家介紹的是LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場探頭，閱讀完本篇文章大約需要6分鐘，感謝您的本次到訪和繼續閱讀！

一、LANGER公司簡介

LANGER EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領域的，集研究、發展和生產于一體的中型電工公司。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術展現出在組件和集成電路開發中的新視角和經濟高效的工作策略。LANGER產品主要有掃描儀/掃描探頭/探測頭/放大器等。Langer EMV-Technik GmbH的EMC專業知識和測量技術為開發人員和設計人員打開了組件開發和IC開發的新視野和高效的工作策略。EMC的研究結果和廣泛的知識在面向實踐的EMC實驗研討會和內部活動中進行傳遞。

Langer EMV-Technik在電磁兼容性(EMC)領域進行研究，開發，生產和提供建議。EMC實驗研討會和EMC研討會向他們的客戶傳達了廣泛的知識。Langer EMV-Technik GmbH是一家德國公司，致力于電磁兼容性(EMC)領域的研究，開發，生產和培訓。他們在全球范圍內都需要伴隨開發的用于干擾發射和抗擾度的EMC測量技術以及IC測試系統。有關解決EMC任務的與開發有關的個人建議，使開發人員和設計人員可以更輕松地解決IC，設備和模塊開發中的復雜EMC問題。

二、LANGER產品介紹

1、LANGER掃描儀探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場探頭的測量線圈與探頭軸正交布置。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。這樣就可以在電路板表面上難以觸及的位置進行測量，例如在開關調節器的大型組件之間進行測量。

②LFS-B 3是無源近場探頭。與磁場探頭LFS-R 3的區別在于線圈旋轉了90°。LFS-B 3檢測從測量對象正交出現的磁場線。未檢測到從側面進入探頭的磁場線。近場探頭小巧方便。它具有護套電流阻尼并且具有電屏蔽功能。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。H場探頭內部沒有50端接電阻。

漢達森竇世文15801397840

2、LANGER近場探頭

①單個近場探頭不足以搜索發射。而是，硬件開發人員的任務是選擇和使用相關的探針。

②對于模塊的EMC優化，重要的是開發一種用于近場測量的測量策略，以便使用所選的近場探頭在板上找到發射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為模塊上的近場偵察提供各種H/B近場探頭和E/D近場探頭。每個探針家族都是根據特定任務開發的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭特別具有實用的引腳形狀。它們很小且方便。這使開發人員可以在其電子產品上進行靈活而有針對性的測量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭通常適用于在100 kHz至20 GHz頻率范圍內測量RF干擾所需的所有預一致性測量。漢達森竇世文15801397840

⑥所有近場探頭均由德國的Langer EMV-Technik GmbH開發，制造和校準。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉換為探針頭位置處的磁場。校正特性可作為EXCEL作為xlsx文件下載準備在他們的網站上。您會從Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設計的成套或單獨的近場探頭。

3、LANGER近場探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場探頭套件LF1包含四個屏蔽無源近場探頭，用于電子組件上LW，MW和KW范圍內HF磁場的發展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從更遠的距離確定模塊的干擾發射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位干擾源。

③這些探頭可以對單個引腳，較大的組件和結構部件進行測量。近場探頭小巧方便。它們具有護套電流阻尼并且被電屏蔽。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。

④磁場探頭LF-B 3的測量線圈與探頭軸正交。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。結果，在電路板表面難以到達的位置進行了測量，例如在大型建筑物之間。

LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場探頭

三、LANGER主要產品和型號

1、LANGER主要產品

①德國LANGER掃描儀

②德國LANGER掃描探頭

③德國LANGER探測頭

④德國LANGER放大器